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    臺積電推20nm及CoWoS參考流程

    作者: 時間:2012-10-10 來源:中文業(yè)界資訊站 收藏

      9日宣布,已領先業(yè)界成功推出支援制程與(ChiponWaferonSubstrate)技術的設計參考流程,展現(xiàn)該公司在開放創(chuàng)新平臺(OpenInnovationPlatform,OIP)架構中,支援技術的設計環(huán)境已準備就緒。

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/137503.htm

      強調,參考流程,是采用現(xiàn)行經(jīng)過驗證的設計流程協(xié)助客戶實現(xiàn)雙重曝影技術(DoublePatterningTechnology,DPT),藉由雙重曝影技術所需知識的布局與配線(PlaceandRoute)、時序(Timing)、實體驗證(PhysicalVerification)及可制造性設計(DesignforManufacturing,DFM),電子設計自動化(EDA)領導廠商通過驗證的設計工具能夠支援的20nm制程。

      此外,臺積電指出,通過矽晶片驗證的參考流程,則能夠整合多晶片以支援高頻寬與低功耗應用,加速三維積體電路(3DIC)設計產(chǎn)品的上市時間,晶片設計業(yè)者亦受惠于能夠使用電子設計自動化廠商現(xiàn)有的成熟設計工具進行設計。

      臺積電研發(fā)副總侯永清表示,以上參考流程能夠完整的,將臺積電先進的20奈米與CoWoS技術提供給晶片設計業(yè)者,以協(xié)助其盡早開始設計開發(fā)產(chǎn)品。而對于臺積電及其開放創(chuàng)新平臺設計生態(tài)環(huán)境伙伴而言,首要目標即在于能夠及早、并完整地提供先進的矽晶片與生產(chǎn)技術給客戶。



    關鍵詞: 臺積電 20nm CoWoS

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