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    EUV遭受新挫折 半導體10nm工藝步伐蹉跎

    作者: 時間:2014-02-26 來源:中國電子報 收藏
    編者按:當半導體工藝發展到10nm水平時,傳統的光刻工藝將面臨前所未有的挑戰,所有經典物理的規律在量子水平下都有可能失效,必須在硅材料之外尋找一種新的、實用的思路來進一步延續集成電路的發展。

      ASML的量產型光刻機在TSMC現場初試時出現失誤。

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/233885.htm

      在2014年加州SanJose舉行的先進光刻技術會議上TSMC演講中透露此消息,由于光源內的激光機械部分出現異位導致光源破裂。因此光刻機停擺。TSMC的下一代光刻部經理JackChen證實僅是激光的機械部分故障。

      ASML/Cymer計劃迅速解決問題,按Chen的看法,EUV仍有希望。盡管EUV光刻出現問題但是TSMC計劃在節點時能用上EUV。

      近期EUV光刻機出現一系列的問題被曝光。有些專家認為在TSMC現場出現的光源故障對于EUV的實用性,尤其是對于未來的量產型EUV光刻機客戶會產生疑惑,可能會延續一段時間。

      目前對于EUV光刻機的問題集中在光源,實際上尚有不少問題待解決,如EUV的掩膜與光刻膠等。

      光源問題

      ASML的第一代量產型EUV光刻機NXE;3300B近期己運抵TSMC。而Intel,Samsung和其它客戶都有望在今年也拿到設備。這類EUV光刻機的數值孔徑(NA)0.33,4X放大及分辨率為22nm(half-pitch)。

      運抵TSMC的NXE3300B裝上ASML/Cymer的30瓦EUV光源。按TSMC說法,原試車計劃在1月31日前舉行,但是由于激光的機械部分出現故障,導致設備停擺。直到2月24日設備仍不能開動。

      此類光源由Cymer公司研發,近期它己被ASML兼并。ASML/Cymer曾經承諾在2012年底時提供100瓦光源。但是至今Cymer在實驗室里能提供40-50瓦光源。

      Chen說,可能是EUV光源的內部件出現故障,即集光鏡。此類EUV光源是基于激光型plasma(LPP)技術。在LPP中由激光脈沖產生的等離子體射中靶子。光源也利用一種pre-pulselaser和一種主振功率放大器(MOPA)來邦助提高光源的功率。

      當一個55瓦光源可使EUV光刻機的硅片通過量達到每小時43片,顯然從產業角度至少需要80瓦光源,而且能穩定連續的工作。因為當光源功率在80瓦時可以每小時58片。ASML的計劃在2015年時光源功率能達到250瓦,可實現每小時126片。



    關鍵詞: EUV 10nm

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