基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器ST-Ericsson將半導體測試速度提升10倍

　　挑戰

　　構建靈活的驗證測試解決方案，滿足半導體芯片測試的多種射頻標準，進而升級整個特性記述實驗室。

　　解決方案

　　使用軟件定義的NI PXI平臺，取代笨重、昂貴、難以調整的箱型儀器。

　　在智能手機與平板電腦的半導體開發方面，ST-Ericsson是業界的領導廠商。我們在全球都設有開發與測試中心以及多個特性記述實驗室，可完整 地測試與驗證智能手機和平板電腦的射頻元件/平臺。 這些平臺包含多種無線電，例如GPS、藍牙、3G、4G等規格，這一系列的平臺測試作業包含了近800,000次測量。

　　ST-Ericsson芯片本身極為復雜，因此就需要驗證實驗室能夠滿足多種射頻標準，且達到嚴格測試的效能需求。 就算只是連接這些芯片，也需要多種標準與自定制數字協議。然而，射頻分析儀、發生器、數字波形發生器等傳統箱型儀器體積龐大又昂貴，且其靈活度無法滿足ST-Ericsson的需求。

　　ST-Ericsson的測試工程師因此選用了PXI平臺來取代傳統箱型儀器。 他們選擇了NI FlexRIO與不同的數字標準，例如串行外設接口(SPI)和內置集成電路(I2C)，進行通信。即便目前市面上的數字適配器模塊不能夠滿足需求，工程師也可快速開發自己的適配器模塊，無需擔心電腦后端以及FPGA通信功能。 針對射頻測試，ST-Ericsson選用了高性能的NI PXIe-5665矢量信號分析儀，它具備軟件定義的特性，并可與NI LabVIEW工具包兼容，滿足所有無線標準。　　

　　

　　總的來說，相較之前的解決方案，PXI系統速度提升了十倍，而成本是之前的三分之一。PXI平臺的靈活性，能夠適應各種不同的數字和射頻標準。