邏輯信號(hào)測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

　　引言

　　在數(shù)字電路的調(diào)試和檢修時(shí)，常常要對(duì)電路中某點(diǎn)的邏輯信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，采用萬(wàn)用表或示波器等儀器儀表很不方便，而采用邏輯信號(hào)測(cè)試儀通過(guò)幾個(gè)發(fā)光二極管就可以指示被測(cè)信號(hào)的邏輯狀態(tài)及脈沖信號(hào)的頻率范圍，使用簡(jiǎn)單方便，給數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)和電路設(shè)計(jì)開發(fā)帶來(lái)便利。本文采用中小規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了一種邏輯信號(hào)測(cè)試儀，不僅能區(qū)分邏輯電平的狀態(tài)和脈沖信號(hào)頻率的數(shù)量級(jí)，而且適用于各種類型的數(shù)字電路邏輯信號(hào)的測(cè)試。如果將電路安裝成邏輯測(cè)試筆，使用就更為方便。

　　設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

　　功能設(shè)計(jì)

　　邏輯信號(hào)測(cè)試儀主要包括邏輯信號(hào)狀態(tài)的區(qū)分和脈沖信號(hào)頻率的區(qū)分兩部分功能。其中邏輯信號(hào)狀態(tài)的區(qū)分主要通過(guò)雙電壓比較器電路實(shí)現(xiàn)，而脈沖信號(hào)頻率的區(qū)分可利用數(shù)字頻率計(jì)的原理實(shí)現(xiàn)。由于邏輯信號(hào)測(cè)試儀的電源來(lái)自被測(cè)電路，為滿足各種類型的數(shù)字電路邏輯信號(hào)的測(cè)試，故所用芯片必須是能單電源供電且電源范圍較寬的模擬電路芯片和CMOS類的數(shù)字集成電路芯片。