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電子元件老化——電阻和運(yùn)算放大器的老化效應(yīng)
- 使用溫度計(jì)算和Arrhenius方程了解電阻器和放大器的老化行為，以了解電阻器漂移、電阻器穩(wěn)定性和運(yùn)算放大器漂移。之前，我們討論了使用相對(duì)較短的測(cè)試時(shí)間來評(píng)估電子元件長(zhǎng)期穩(wěn)定性的高溫加速老化方法。在本文中，我們將繼續(xù)討論并研究電阻器和放大器的老化行為。老化預(yù)測(cè)——老化引起的電阻漂移首先，讓我們記住電阻器的值會(huì)隨著時(shí)間而變化。在許多電路中，只需要總的精度，電阻器老化可能不是一個(gè)嚴(yán)重的問題。然而，某些精密應(yīng)用需要在指定壽命內(nèi)長(zhǎng)期漂移低至百萬分之幾的電阻器。因此，開發(fā)具有足夠精度的老化預(yù)測(cè)模型以確保所采用的精密
- 關(guān)鍵字： 電子元件老化，電阻，運(yùn)算放大器，老化效應(yīng)，Arrhenius
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