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    突破性新工具助力實(shí)現(xiàn)電池更長(zhǎng)的充電間隔時(shí)間

    作者: 時(shí)間:2014-09-05 來(lái)源:EEPW 收藏

      目前,我們使用的每種電子設(shè)備幾乎都存在一個(gè)最令人關(guān)注的問(wèn)題,那就是其供電能力。我們希望自己的智能手機(jī)、電腦、電動(dòng)工具和可穿戴健身設(shè)備的功耗更低,從而延長(zhǎng)它們的續(xù)航時(shí)間。正是出于這個(gè)原因,德州儀器(TI)為那些在其電子產(chǎn)品中采用了TI MSP430?微控制器(MCU)的工程師們推出了能確切知道設(shè)備哪些地方耗電以及如何耗電的新技術(shù)。

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/262628.htm

      這項(xiàng)新技術(shù)被稱(chēng)為++?,是一種系統(tǒng)。一般來(lái)說(shuō),工程師在運(yùn)行其設(shè)備的MCU中查找“漏洞”需要花費(fèi)很多時(shí)間。在運(yùn)行系統(tǒng)的軟件中,這些漏洞或微小的誤差可能會(huì)導(dǎo)致不必要的功耗增加。為了在價(jià)格不高的MCU中找出這些漏洞,工程師必須先用儀表仔細(xì)檢查MCU中的每一行代碼,而這往往是一個(gè)非常耗時(shí)的過(guò)程?,F(xiàn)在,采用++技術(shù),所有功耗信息均可在工程師電腦屏幕上的曲線圖中一目了然,并按設(shè)備正在執(zhí)行的任務(wù)精確顯示哪些地方在耗電,耗電量是多少。

      “Energy Trace++使MCU能夠顯示設(shè)備在執(zhí)行任何任務(wù)時(shí)的耗電量,無(wú)需借助萬(wàn)用表等測(cè)量工具被動(dòng)地從MCU外部測(cè)量功耗即可找出產(chǎn)生額外功耗的漏洞?!盡SP430產(chǎn)品市場(chǎng)營(yíng)銷(xiāo)工程師Priya Thanigai說(shuō)道。

      Priya還表示,這種類(lèi)型的工具在過(guò)去就已經(jīng)存在,但有一個(gè)很大的問(wèn)題。以前,如果工程師想要找出這些深藏在MCU軟件中的小漏洞,他們就不得不在非常昂貴的MCU和設(shè)備上花費(fèi)成千上萬(wàn)美元的資金;此外,工程師還必須掌握與該調(diào)試工具工作方式相關(guān)的大量知識(shí)。++不僅物美價(jià)廉而且易于使用,無(wú)論是對(duì)于初創(chuàng)企業(yè)的工程師還是供職于資產(chǎn)雄厚的股份公司的工程師,該技術(shù)都非常的適用。

      “工程師可利用MSP430FR59x/69x FRAM MCU系列或其他經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的MCU實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo)。而正是這樣的事實(shí)使該產(chǎn)品如此的獨(dú)特且富有創(chuàng)意,因?yàn)闊o(wú)需任何花費(fèi),電路系統(tǒng)就能提供高準(zhǔn)確度和詳盡的信息?!盤(pán)riya Thanigai說(shuō),“使用EnergyTrace++,不到五分鐘就可以完成設(shè)置,同時(shí)僅需通過(guò)極低的花費(fèi)就可以暢享通常只有真正高端工具才能擁有的絕佳性能?!?/p>

      MCU產(chǎn)品市場(chǎng)營(yíng)銷(xiāo)工程師William Cooper認(rèn)為,該調(diào)試工具將能夠使供電型設(shè)備裝配更小的,同時(shí)實(shí)現(xiàn)更長(zhǎng)的間隔時(shí)間,甚至在某些情況下根本不用。他還堅(jiān)信,由于該技術(shù)非常易用并能迅速找出漏洞,因此還將能幫助企業(yè)加快其產(chǎn)品上市進(jìn)程。

      “這是十年來(lái)我們所開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品中最具創(chuàng)新性的工具之一,它讓許多人都為之振奮。坦白說(shuō),我們很高興能對(duì)它展開(kāi)介紹,并將它隆重推向市場(chǎng)供人們使用?!盬illiam表示。

      歡迎點(diǎn)擊以下鏈接,進(jìn)一步了解使EnergyTrace++?技術(shù)成為可能的MSP430FR59x/69x FRAM MCU系列、MSP-FET MSP430 JTAG編程器/調(diào)試器和MSP430FR5969 LaunchPad原型快速生成套件。


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