電子設計創新大會（EDI CON China）公布主旨演講和議程

　　北京，2019年2月25日——將于2019年4月1-3日在北京國家會議中心舉行的EDI CON China 2019(電子設計創新大會)今日宣布了全體會議的主旨演講嘉賓和完整的會議議程。4月1日(星期一)上午9:30在一層多功能廳A開始的主旨演講將拉開為期3天的會議和展覽的序幕。主旨演講包括：

　　射頻、微波和高速電路中的功率相關因素

　　Steve Sandler，Founder and CTO，Picotest

　　作為工程師，我們的任務是為我們的射頻、微波和高速數字電路實現最佳性能。然而，我們經常設計、仿真和測量性能，而不考慮電源對這些電路的影響。考慮電源影響意味著什么呢?本演講著眼于電源對射頻、微波和高速數字系統的多種影響，解釋了我最喜歡的仿真、測量和排除這些復雜問題的技術之一。

　　Steve Sandler在電力系統工程領域已經工作近40年。他是Picotest的創始人兼首席執行官。Picotest是一家專注于高性能電源系統和分布式系統測試的儀器和配件的公司。他也是AEi Systems的創始人，該公司專門從事在最壞情況下高可靠性電路的分析。Steve還是《Signal Integrity Journal》的編輯顧問。

　　用于網絡設備制造、芯片組和設備的5G測試和測量技術

　　Kailash Narayanan，Global VP of Keysight Wireless Device Organization

　　隨著3GPP第15版的發布，無線通信行業已開始大規模生產5G設備、器件并開始初期的部署。本演講將探討未來的主要市場趨勢和挑戰，并概述測試和測量解決方案。

　　Kailash Narayanan是Keysight Technologies的副總裁兼總經理。他領導無線行業解決方案業務部門，負責研發、產品和解決方案開發、營銷和銷售，以及無線生態系統的交付，包括芯片組制造商、設備行業、合同制造商、ODM和服務提供商。Kailash擁有伊利諾伊大學芝加哥分校電子與通信工程學士學位、電子工程與計算機科學碩士學位以及瓦爾登大學工商管理碩士學位。

　　5G新無線電測試和測量挑戰以及應對方法

　　Alexander Pabst，Vice President Systems and Projects，Rohde & Schwarz

　　NR，即第五代新無線電通信系統即將通過將所有人和物都納入全球通信網絡而引發下一次革命。對容量的不斷增長的需求要求在已有的頻譜(頻率范圍1 = FR1)以及毫米波(頻率范圍2 = FR2)，即30GHz及更高，的范圍內部署新頻譜。對于FR2，高度自適應的波束賦形天線是游戲的重要組成部分，伴隨著極具挑戰性的空中(OTA)測試和測量(T&M)需求。但是在FR1中，我們看到更復雜、更密集的集成架構，特別是在基站中，需要新的創新測試方法，包括OTA。本演講將討論5G NR OTA挑戰，并概述輻射測試環境的解決方案，以優化技術的可行性、測試次數/周期和投資/維護需求。將討論不同的幾何形狀和外形因素、頻率范圍和環境條件，以反映3GPP、CTIA、ETSI等相關標準化組織的最新進展。

　　Alexander Pabst于1997年加入Rohde&Schwarz。從那時起，他在測試與測量部門擔任過多個產品管理職位，之后于2014年成為測試與測量部門系統組副總裁。他的國際工作責任包括負責在新加坡和中國的開發和集成團隊。

　　主旨演講之后，將開始各專題分會：5G先進通信、電源完整性、仿真與建模、測試與測量、毫米波、放大器設計、低功耗/物聯網、前端設計、射頻/微波設計和信號完整性。會議還包括是德科技教育論壇的一系列講座。是德科技是大會的首席贊助商。其它主要贊助商包括：鉆石贊助商羅德與施瓦茨;金牌贊助商：Mini-Circuits、福聯集成電路、WIN Semiconductors、益豐電子和三安集成電路。