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    NI方案保障客戶從5G原型研發(fā)走向大規(guī)模生產(chǎn)

    作者: 時間:2018-04-24 來源:EEPW 收藏

    2018年是開始走向大眾的一年,從年初的冬奧會開始已經(jīng)從研究逐漸走向了小規(guī)模商用,雖然距離大規(guī)模的商用還有不小的距離,但5G的腳步已經(jīng)越來越近,對于那些多年來致力于5G原型和技術(shù)研發(fā)的企業(yè)來說,即將迎來檢驗前期研發(fā)成果的收獲時節(jié)了。

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/201804/378848.htm

    這就對5G的系統(tǒng)測試提出了全新的挑戰(zhàn),在標(biāo)準(zhǔn)沒有完全確定之際就走向商用,需要測試系統(tǒng)必須兼顧原型開發(fā)以及后期的生產(chǎn)應(yīng)用測試,“這是平臺化方案提供給客戶最好的競爭優(yōu)勢”自動化測試市場副總裁Luke Schreier如此總結(jié),從最初就以平臺化的概念去構(gòu)建5G的解決方案,從前期的原型算法驗證到后期的生產(chǎn)測試,通過NIRIO架構(gòu)把相關(guān)的功能整合在一個平臺內(nèi)實現(xiàn),滿足同平臺下的研發(fā)和測試多種需要,大幅降低技術(shù)難度和商業(yè)成本,從而快速推進(jìn)從芯片企業(yè)到設(shè)備公司的5G研發(fā)測試成本降低

    5G測試來說,一個很關(guān)鍵的挑戰(zhàn)就是因為部分應(yīng)用對通信的實時性要求更高,部分應(yīng)用又對系統(tǒng)的信道數(shù)量要求更高,這就給了NI的平臺化方案更多施展的舞臺。Luke Schreier介紹,NI在實時性測試方面有很多經(jīng)驗積累,特別是在汽車領(lǐng)域和航空航天領(lǐng)域的實時性測試都可以借助平臺化方案應(yīng)用到5G測試中,從而提升5G實時性測試的精度。為此NI專門開發(fā)了包括軟件和硬件的實時性同步測試解決方案,可以滿足V2XV2V通信的實時性要求。Luke Schreier認(rèn)為,NI的平臺方案的重要優(yōu)勢就是各種測試軟件和解決方案可以集合到一起,而5G提出來的需求就是很多的技術(shù)融合在一起,NI的平臺能夠容納更多測試的技術(shù)以滿足客戶對5G這種融合技術(shù)的全部測試需求。此外,平臺化的方案還有一個優(yōu)勢是支持客戶在這個平臺上自行開發(fā)各種測試功能的應(yīng)用。NI提供的測試平臺硬件和軟件只是一個基礎(chǔ)工具,通過開放的接口,客戶可以針對自己的特定應(yīng)用在這個工具平臺之上進(jìn)行相應(yīng)的二次開發(fā),從而開發(fā)出適合自己需求的特定應(yīng)用,滿足測試需求的靈活性和定制化需求。

    談及5G測試待解決的挑戰(zhàn),Luke Schreier強(qiáng)調(diào),相比于前幾代技術(shù),5G測試有一個拓展,就是毫米波的頻段的引入,這就可能會要求待測試系統(tǒng)有64×64的相控陣,并且在此之上做波束的成形與賦形技術(shù)。這就對測試提出了明確的定向性,需要在空間的維度上觀察形成的波束是什么樣的,可能涉及到近場的測試以及遠(yuǎn)場的測試,在高頻范圍的遠(yuǎn)場測試,無疑將成為一個非常關(guān)鍵的技術(shù)挑戰(zhàn)。

    面對這樣的挑戰(zhàn),低頻方案顯得更為現(xiàn)實,Luke Schreier表示,相比于高頻范圍的不可知,低頻范圍的技術(shù)相當(dāng)成熟,并且能夠兼容3G4G的標(biāo)準(zhǔn)。對前期的5G應(yīng)用只需要改變閾值并提升帶寬就能滿足相應(yīng)的需求。為此NI在低頻端發(fā)布了全新的一款Sub-6GHz 5G測試參考解決方案,該解決方案符合5G新空口(NR)的3GPP Release 15規(guī)范。NISub-6GHz 5G NR參考解決方案是一種經(jīng)濟(jì)高效且高性能的測試選項,可幫助工程師快速對其設(shè)計進(jìn)行特性分析,并更輕松地從研發(fā)過渡到生產(chǎn)測試環(huán)境,開發(fā)出相應(yīng)的射頻器件和設(shè)備。NI新的5G測試技術(shù)還為射頻和半導(dǎo)體測試提供了全面的產(chǎn)品組合,包括用于2G3GLTE-AdvancedProWiFi 802.11ax、藍(lán)牙5等的測量軟件。此外,工程師可以使用NI VST以及600多種模塊化PXI產(chǎn)品(頻率從直流到毫米波)來開發(fā)全面的半導(dǎo)體特性分析和量產(chǎn)測試系統(tǒng)。




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