幅頻特性的測試愁白頭？DDS技術(shù)解你煩憂

最初，對于DUT的幅頻特性的測試是在固定頻率點(diǎn)上逐點(diǎn)進(jìn)行。這種測試方法繁瑣、費(fèi)時(shí)，且不直觀，有時(shí)還會得出片面的結(jié)果。例如，測量點(diǎn)之間的諧振現(xiàn)象和網(wǎng)絡(luò)特性的突變點(diǎn)常常被漏掉。

DDS(DirectDigitalSynthesis)技術(shù)是1971年3月由美國學(xué)者J.TIerncy,C.M.Rader和B.Gold提出，這是一種從相位概念出發(fā)直接合成所需要波形的全數(shù)字頻率合成技術(shù)，原理框圖如下：

圖表1DDS技術(shù)原理框圖

DDS技術(shù)的出現(xiàn)使得我們對于幅頻特性的測試變得異常簡單。我們只需要按照某種規(guī)律不斷的配置“頻率碼K”，就能夠得到一個(gè)頻率隨時(shí)間按照此規(guī)律在一定頻率范圍內(nèi)掃動的信號，如此即可對DUT進(jìn)行快速、定性或定量的動態(tài)測試。因此，對DUT的調(diào)整、校準(zhǔn)及故障排除提供了極大的便利。

北京普源精電(RIGOL)最新推出的DG5000系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器采用了DDS直接數(shù)字合成技術(shù)，可生成穩(wěn)定、精確、純凈和低失真的輸出信號。本文僅以DG5000為例來詳細(xì)說明DDS信號源在掃頻測試中的具體應(yīng)用。

1.DG5000提供1uHz～250MHz的掃頻范圍；

2.掃頻類型支持“線性掃頻”、“對數(shù)掃頻”和“步進(jìn)掃頻”；

3.掃頻時(shí)間1ms～300s，同時(shí)支持“返回時(shí)間”、“起始保持”和“終止保持”的設(shè)置；

4.觸發(fā)方式包括“自動觸發(fā)”、“外部觸發(fā)”和“手動觸發(fā)”；

5.支持“標(biāo)記頻率”的設(shè)置，可以輕易表示出掃頻信號任意點(diǎn)的頻率值。