基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

　　摘要：本方案采用安捷倫基帶信號發生器與信道仿真儀N5106A PXB或安捷倫最新信號發生器N5182B/N5172B作為測試平臺，通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統計出基站的吞吐率。

　　LTE(Long Term Evolution,長期演進)技術是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術，LTE系統在提高峰值數據速率、小區邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時延以及降低運營和建網成本等方面擁有巨大的優勢。同時，LTE系統與現有系統(2G/2.5G/3G)能夠共存，并且實現平滑演進。

　　LTE系統按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業務等諸多優勢，是中國通信業界力推的國際標準。

　　系統吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實現實時反饋并動態調整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號，同時還需要模擬相應的信道衰落模型，并且根據基站下發的ACK/NACK指令實時地調整發射信號的編碼冗余因子，以模擬真實的通信環境。

　　HARQ測試原理

　　上行HARQ方式

　　LTE系統將在上行鏈路采用同步非自適應HARQ技術。雖然異步自適應HARQ技術與同步非自適應技術比較，在調度方面的靈活性更高，但是后者所需的信令開銷更少。由于上行鏈路的復雜性，來自其他小區用戶的干擾是不確定的，因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準確性導致上行鏈路對于調制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確，所以更多地依賴HARQ技術來保證系統的性能。因此，上行鏈路的平均傳輸次數會高于下行鏈路。所以，考慮到控制信令的開銷問題，在上行鏈路使用同步非自適應HARQ技術。

　　上行HARQ時序

　　LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布，因此其HARQ時序映射關系較FDD更為復雜。根據3GPP TS 36.213規定，TDD制式不同UL/DL Configuration下，下行子幀只在規定位置發送ACK/NACK指令，每個位置發送的ACK/NACK指令對應特定的上行子幀信號，如表1所示。　　

 

　　3GPP TS 36.141規定性能測試只需在配置1下進行，因此可以根據表1的描述得到配置1時的時序圖。