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    泰克將在IDF2010上展示最新測試解決方案

    作者: 時間:2010-04-13 來源:電子產品世界 收藏

      公司日前宣布,將在4月13日到14日北京國家會議中心舉辦的2010英特爾信息技術峰會(IDF2010)上展示最新的計算技術和應用如、PCI Express 3.0的解決方案。通過業界領先的、探頭和相關軟件,的綜合解決方案將幫助工程師簡化測試復雜性和所需的時間,使其能在規定時間內成功將新產品推向市場。

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/107894.htm

      作為英特爾的長期供應商和合作伙伴,多年來一直是IDF參展商。為契合IDF2010的主題,泰克將加入USB應用廠商論壇小組,集中展示其為USB 3.0驗證、調試和自動化一致性測試提供的完整工具組合。

      SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性測試解決方案

      泰克提供完善的一系列工具,把硬件工具與增強的應用軟件結合在一起,可以全面支持所有發射機、接收機和電纜物理層測試。例如,DPO/DSA70000B系列與新的USB-TX選項相結合,為驗證USB 3.0發射機測試提供了自動的一鍵式解決方案,可執行包括擴頻時鐘(SSC)、轉換、電壓電平等在內的多種測試。

      AWG7000B任意波形發生器與SerialXpress高級抖動生成工具相結合,是世界上唯一的全內置接收機測試解決方案;帶有IConnect軟件的DSA8200采樣則為分析和檢定復雜的串行數據網絡提供了最完整、最經濟的解決方案。

      PCI Express 3.0端到端測試解決方案

      泰克為下一代PCI Express 3.0規范提供了完整的測試解決方案,能夠在單一的工具中執行從協議層到物理層分析。泰克最新發布的TLA7SA16和TLA7SA08模塊,是對現有工具組包括DSA72004B實時示波器配合P7500系列TriMode探頭、AWG7000B任意波形發生器和DSA8200采樣示波器的重大補充。這種全面解決方案提供了靈活的高性能探測功能,可以準確捕獲PCIe 3.0 8 GT/s 總線業務。它可以顯示和分析PCIe協議,支持TLP和DLLP數據包解碼及高達16 GB的軌跡緩沖器,支持調試快速L0s/L1 Latency L0的PCIe 3.0 ASPM (有效狀態電源管理),可以自動跟蹤鏈路速度協商,執行鏈路訓練和初始化調試。



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