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    芯片生命周期管理 文章 最新資訊

    新思科技芯片生命周期管理再升級,加速數(shù)據(jù)傳輸并顯著縮短測試時間

    • 新思科技(Synopsys, Inc.,)近日推出了一項創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)技術(shù)(Streaming fabric technology),能夠?qū)⑿酒瑪?shù)據(jù)訪問和測試的時間最高縮短80%,并極大程度地降低極限功耗,從而支持日益復(fù)雜的大型設(shè)計中芯片健康監(jiān)測的實時分析。作為新思科技芯片生命周期管理流程的一部分,該創(chuàng)新的流結(jié)構(gòu)是一種獨特的片上網(wǎng)絡(luò),由新思科技TestMAX? DFT可測性設(shè)計工具生成,可以快速地將芯片數(shù)據(jù)傳輸?shù)蕉鄠€設(shè)計塊和多裸晶芯片系統(tǒng)中,顯著縮短了測試和分析芯片整體健康狀況以發(fā)現(xiàn)異常和故障的時間
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    芯片生命周期管理介紹

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