日立高新 文章 最新資訊

日立高新技術(shù)公司部宣布推出其GT2000高精度電子束測(cè)量系統(tǒng)

• 日立高新技術(shù)公司宣布推出其GT2000高精度電子束測(cè)量系統(tǒng)。GT2000利用日立高新技術(shù)在CD-SEM*1方面的技術(shù)和專業(yè)知識(shí)，在那里占有最大的市場(chǎng)份額。GT2000配備了用于尖端3D半導(dǎo)體器件的新型檢測(cè)系統(tǒng)。它還利用低損傷高速多點(diǎn)測(cè)量功能用于high-NA EUV*2抗蝕劑晶片成像，以最小化抗蝕劑損傷并提高批量生產(chǎn)的產(chǎn)率。日立高新技術(shù)（Hitachi High-Tech）GT2000 CD-SEM將能夠?qū)崿F(xiàn)高級(jí)半導(dǎo)體器件制造過程中的高精度、高速測(cè)量和檢測(cè)，這些半導(dǎo)體器件正變得越來越小型化和復(fù)雜化，并有助
• 關(guān)鍵字： 日立高新  測(cè)試測(cè)量  GAA  CFET