自今年四月份以來，Christian Wolff一直負責漢諾威Viscom AG手動和半自動X射線檢測系統的技術銷售工作。在加盟Viscom之前，他任職于一家全球性系統制造商，負責該公司的國內外銷售工作。
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Viscom 檢測系統 X射線
利用成熟的分析探測儀器作為日常的線上監測工具已經成為半導體量測方法一個重大的發展趨勢。掃描電子顯微鏡（SEM）和X射線熒光譜線（XRF）是兩個最好的例子，如電子微探針等技術還在研究之中。這種趨勢的主要推動力是
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X射線 衍射 半導體 在線測量
摘要分析對比了X射線檢驗與磁粉檢驗的檢測范圍及優缺點,舉例說明磁粉檢驗能發現X射線檢驗沒有發現的缺陷,...
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磁粉檢測 容器檢驗 X射線
FDA發出警告CT使用的X射線造成器械故障,美國食品藥品監督管理局7月14日發出警告：CT檢查中使用的X射線可能造成某些植入或體外電子醫療器械故障。這一警告是FDA的醫療器械與放射衛生中心主任Daniel Schultz博士在一封信中公布的，他說：FDA已經接到了數個CT
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FDA X射線
X射線：醫療/牙科設計注意事項,X 射線數字化成像正在為放射診斷學帶來變革。在傳統的 X 射線系統中，每個組件中的信號衰退都會消耗大于 60% 的原始 X 射線信號能量。在系統的每一級，X 射線信號都將衰退一定的量，即使是為應用專門優化的獨立組件也
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X射線 注意事項
X射線等三種醫療數字成像設備原理解析,21世紀數字成像技術的出現給我們帶來優異的診斷功能、圖像存檔以及隨時隨地的檢索功能。自20世紀70年代早期醫學成像數字技術出現以來，數字成像的重要性得以日益彰顯。半導體器件中混合信號設計能力方面的一些新進展
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X射線 數字成像 設備 原理
X射線光電子能譜分析X射線光電子能譜法（X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS）在表面分析領域中是一種嶄新的 ...
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X射線 光電子 能譜分析
X射線技術是一項成熟的老技術，從1895年德國物理學家倫琴發現X射線(又稱倫琴射線)起，對于X射線的研究與應用已經歷了100多年的時間。但截至目前，對于X射線最主要的應用大都集中在工業探傷與檢測上，其次是醫療檢查和安全檢驗方面。電子行業及半導體領域的微檢測成像，是一項新興的X光應用技術，它對X光發生器提出更高的要求，并高度集成了多項工業自動控制軟硬件新技術，結合半導體及電子封裝工藝特點，把 X射線的應用延伸到一個更高的應用領域。它可以解決半導體生產研發中的基片、晶元質量判定問題，可以檢測COB(板上芯
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半導體制造 封裝 CSP芯片 X射線
自1895年以來，X射線診斷與治療技術有了飛速的發展，主要進展可分為以下幾個階段： (一)離子X射線管階段(1895～1912) 這是X射線設備的早期階段。當時X射線機的結構非常簡單，使用效率很低的含氣式冷陰極離子X射線管，
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X射線 設備 發展
(一)X射線診斷 X射線應用于醫學診斷，主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由于X射線穿過人體時，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多，那么通過人體后的X射線量就不一樣
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X射線 中的應用
在傳統的X射線系統中，每個組件中的信號衰退都會消耗大于60%的原始X射線信號能量。因此，一般僅有少于40%的原始 ...
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X射線 ECG信號 ADC MCU
在傳統的X射線系統中，每個組件中的信號衰退都會消耗大于60%的原始X射線信號能量。因此，一般僅有少于40%的原始 ...
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X射線 CCD 直接轉換 ADC MCU
大多數測試工程師都了解X射線檢查系統可以檢查隱藏在元件下面的焊點，或檢查其它技術難以檢測出來的微小焊點。但是，他們可能不了解X射線成像技術有不同的檢查方式，2D發射設備會顯示X射線路徑上的一切物體，而3D系統可以消除來自雙面電路板上元件的視覺干擾。盡管2D X射線系統目前還在應用，但3D系統卻是高密度雙面電路板檢查的主流檢查設備。
兩家著名的PCB測試設備制造商為電子行業生產3D X射線檢查系統，即安捷倫和泰瑞達。目前，安捷倫科技的5DX系列在市場上占據優勢，而泰瑞達的ClearVue系統卻是步
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X射線 PCB板
引 言
數字X射線成像系統以其在圖像獲取顯示存儲和傳輸等方面的優勢被廣泛地應用于醫學影像和工業無損檢測領域。這種傳統的醫用影像和工業無損檢測的X射線成像系統一般具有較大的工作面積，但其圖像分辨力不高，一般不超過31pixel/mm;而在實際應用中，一些觀察和分析微小部件內部結構的工作，如，集成電路的檢查、材料與元器件的無損檢測以及微小零件的探傷等，這些實際應用并不要求有很大的工作面積，卻要求有較高的圖像清晰度，另外，運動員、部隊以及野外作業人員遇到傷害時的及時診斷，這項工作要求給受傷病人進行及時
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消費電子 X射線 CCD成像系統 音視頻技術
摘要: 本文以使用標準CMOS技術和有源像素架構的CMOS有源像素傳感器為研究對象。該傳感器專為X射線成像系統而設計，具有噪聲低和感光度高等特點。這種傳感器已使用標準0.35μm技術和8″晶圓得到生產。傳感器分辨率為每40 x 40μm2 面積3360 x 3348像素。其對角長度略大于190mm。本文對傳感器的圖紙設計、拼接圖和已得到開發的電子光學性能進行了論述。 &nbs
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CMOS X射線 電源技術 晶圓級 模擬技術 圖像傳感器 有源像素 其他IC 制程 設備診斷類
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