- 半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司日前針對晶圓測試和集成電路、微控制器的成品測試推出了一款新型測試系統V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長的上市時間壓力。
V101測試系統將于2009年7月14日-16日在美國加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會議中心舉行的SEMICON WEST展覽會上展出。
惠瑞捷副總裁暨ASTS事業部總經理魏津博士表示：“V101首次讓惠瑞捷成熟的測試技術專業知識惠及這一細分市場。這一成本敏感型市場要求測試方案以最低的測試成本
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惠瑞捷 集成電路 晶圓測試 微控制器 測試系統 V101
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