- 本文以Texas?Instruments?20針TSSOP封裝的SN74HC273為例介紹使用GX5295的直流參數測量單元(PMU)對半導體器件進行Continuity測試。 關鍵詞： GX5295,?PMU,?Parametric,?Continuity?Test,?Semiconductor?Test,?ATEasy Introduction 在測試半導體器件的功能之前，通常需要驗證器件的結構完整性
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Texas Instruments GX5295
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