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NI半導(dǎo)體測(cè)試高峰論壇再度聚焦5G毫米波測(cè)試解決方案，迎接5G時(shí)代

2019年7月8日 - 三大運(yùn)營(yíng)商、5G設(shè)備廠商關(guān)于“搶占市場(chǎng)”的大戰(zhàn)已經(jīng)開始，整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈將進(jìn)入沖刺階段。然而，毫米波（mmWave）作為5G最關(guān)鍵的技術(shù)之一，目前還有許多與此相關(guān)尚未解決的技術(shù)難題。NI (國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)的毫米波測(cè)試解決方案致力于幫助設(shè)備廠商解決研發(fā)實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)階段的測(cè)試挑戰(zhàn)，NI最新發(fā)布的mmWave VST（毫米波矢量信號(hào)收發(fā)儀，millimeter wave vector signal transceiver）在NIWeek 20
關(guān)鍵字： NI 東京電子 FormFactor Reid-Ashman ADI

　　美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前宣布授權(quán)位于加利福尼亞利弗莫爾的FormFactor公司為吉時(shí)利半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀制造高性能參數(shù)測(cè)試探針卡。FormFactor公司所提供的探針卡將應(yīng)用于吉時(shí)利S600系列參數(shù)測(cè)試儀，進(jìn)行測(cè)量超低直流電流，以及對(duì)接觸半導(dǎo)體晶圓的PIN腳進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)直流參數(shù)測(cè)試。晶圓制造商和代工廠可以采用S600系列測(cè)試儀對(duì)用于組裝和封裝的晶圓進(jìn)行合格性檢測(cè)或工藝監(jiān)測(cè)。　　FormFactor公司Takumi探針卡非常適合于吉時(shí)利最先進(jìn)的參數(shù)測(cè)試儀——S680型直流/射頻參數(shù)測(cè)
關(guān)鍵字：探針卡吉時(shí)利 FormFactor 測(cè)試測(cè)量

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