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Farichild推出帶有USB/充電器檢測功能的便攜應(yīng)用過電壓保護(hù)器件
- 飛兆半導(dǎo)體公司(Farichild Semiconductor) 為手機(jī)和手持移動產(chǎn)品設(shè)計人員提供一款帶有高集成度過電壓保護(hù)(OVP)和USB/充電器檢測功能的器件FAN3988。該器件是飛兆半導(dǎo)體OVP產(chǎn)品系列的最新成員，可讓終端用戶按照應(yīng)用所需之特定導(dǎo)通電阻和電流能力，靈活選擇外部P溝道MOSFET。 FAN3988具備內(nèi)置自動檢測功能，器件通過連續(xù)監(jiān)控短路條件下的D+ / D-線，能夠感測是否連接USB充電器。此外，器件還通過監(jiān)控VBUS來感測過壓或者欠壓狀況。當(dāng)達(dá)到過壓閾值時，F(xiàn)AN39
- 關(guān)鍵字： Farichild 過電壓保護(hù) OVP FAN3988
飛兆半導(dǎo)體推出一款單一P溝道MOSFET器件
- 飛兆半導(dǎo)體公司 (Farichild Semiconductor)為智能電話、手機(jī)、上網(wǎng)本、醫(yī)療和其它便攜式應(yīng)用的設(shè)計人員帶來一款單一P溝道MOSFET器件FDZ197PZ，能夠?qū)崿F(xiàn)更高的效率水平和更小的外形尺寸。FDZ197PZ在VGS= 4.5V時提供64mOhm之RDS(ON) 值，較同類解決方案低15%，且占位面積僅為1mm x 1.5 mm，在提高效率之余，同時減少了電路板空間需求。該器件采用WL-CSP封裝，比占位面積相似的傳統(tǒng)塑料封裝MOSFET具有更佳功耗和傳導(dǎo)損耗特性。FDZ197P
- 關(guān)鍵字： Farichild MOSFET FDZ197PZ ESD
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