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CBFET運放AD843及其在阻抗匹配電路中的應(yīng)用

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TI針對電池供電應(yīng)用推出運算放大器

　　日前，德州儀器 (TI) 宣布推出Burr-Brown 產(chǎn)品線的新系列高精度、微功耗運算放大器 (Op Amp)。OPA379 系列的工作電壓范圍介于 1.8V ～ 5.5V 之間，并具有高性能單電源操作、超低靜態(tài)電流 (2.9uA) 以及低靜態(tài)電流噪聲 (80nV/rtHz) 等優(yōu)異特性。該器件采用微型封裝，非常適用于電池供電的應(yīng)用。　　該系列的獨
關(guān)鍵字： TI 電池供電放大器新品運算放大器模擬IC 電源

TI針對電池應(yīng)用推出微功耗運算放大器

　日前，德州儀器 (TI) 宣布推出Burr-Brown 產(chǎn)品線的新系列高精度、微功耗運算放大器 (Op Amp)。OPA379 系列的工作電壓范圍介于 1.8V ～ 5.5V 之間，并具有高性能單電源操作、超低靜態(tài)電流 (2.9uA) 以及低靜態(tài)電流噪聲 (80nV/rtHz) 等優(yōu)異特性。該器件采用微型封裝，非常適用于電池供電的應(yīng)用。　　該系列的獨特
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什么原因毀掉了運算放大器？

查明造成半導(dǎo)體器件損壞的電過載(EOS)事件的根源是有難度的，而EOS事件出現(xiàn)無規(guī)律性時難度會更大。為闡明如何才能對EOS事件追根溯源，在此用一個實例說明我們是如何幫助一位用戶辯認(rèn)兩種運算放大器(op amps)的失效原因的。初步、檢查第一種運算放大器OP1遭到一個大型的EOS事件，其許多電路部件受到損壞。第二種運算放大器OP2的情形是EOS事件只損壞了一只薄膜電阻器。兩個運算放大器都有一個或多個引腳無法進(jìn)行連續(xù)性測試—這是器件失效的第一個征兆。此外，OP1的其它幾個引腳呈現(xiàn)功能退化。無論OP1還是OP2
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運算放大器介紹

目錄歷史原理類型主要參數(shù) 應(yīng)用　　運算放大器（常簡稱為“運放”）是具有很高放大倍數(shù)的電路單元。在實際電路中，通常結(jié)合反饋網(wǎng)絡(luò)共同組成某種功能模塊。由于早期應(yīng)用于模擬計算機(jī)中，用以實現(xiàn)數(shù)學(xué)運算，故得名“運算放大器”，此名稱一直延續(xù)至今。運放是一個從功能的角度命名的電路單元，可以由分立的器件實現(xiàn)，也可以實現(xiàn)在半導(dǎo)體芯片當(dāng)中。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，如今絕大部分的運 [ 查看詳細(xì) ]