- 通過對DC／DC轉換器低頻噪聲測試技術以及在y輻照前后電性能與1/f噪聲特性變化的對比分析，發現使用低頻噪聲表征DC／DC轉換器的可靠性是對傳統電參數表征方法的一種有效補充。對DC／DC轉換器輻照損傷與其內部VDMOS器件1/f噪聲相關性進行了研究，討論了引起DC／DC轉換器輻照失效的原因。
- 關鍵字：
DC 相關性 研究 噪聲 VDMOS 輻照 損傷 器件 轉換器
相關性介紹
您好，目前還沒有人創建詞條相關性!
歡迎您創建該詞條，闡述對相關性的理解，并與今后在此搜索相關性的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
