如何降低測試系統開關噪聲(04-100)
—— 如何降低測試系統開關噪聲
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為測試電子和機電器件設計開關系統所遇到的問題和設計產品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開關系統中的噪聲比以前任何時候更加重要。
本文引用地址：http://www.czjhyjcfj.com/article/81053.htm本文所述的噪聲降低技術準則是針對信號頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。
任何新式測試系統都用很多信號和電源線來仿真和測量DUT(待測器件)，并有各種各樣的開關進行自動連接。通用測試系統結構示于圖1。控制總線示于圖中左邊。模擬、數字和電源總線作為垂直線對示于不同子系統后面。
開關是整個系統的中心，互連很多測試點到測量儀器和路由信號、電源到DUT。幾乎所有模擬和數字信號以及電源通過開關系統。
如果設計不注意，開關系統可能是測量誤差之源。有時是莫明其妙的誤差。其原因是簡單的，很多的互連通常彼此緊靠著，這為噪聲耦合提供足夠的機會。每個噪聲問題都有一個噪聲源，以某種形式耦合到接收機，依次對噪聲敏感。
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