泛華測控受邀參加12th國際電子測量與儀器學術會議

　　日前，由中國電子學會、IEEE Beijing Section主辦的第12屆國際電子測量與儀器學術會議(12thICEMI)在青島落下帷幕，北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱：泛華測控)作為受邀企業全程參與了會議。

　　本著“產學研”合作的目的，泛華測控現場向參會嘉賓展示了適用于教學演示用的“多功能數據采集儀”，該產品在教學中可通過直觀的數據和動態圖像的變化，輕松實現電壓采集、電壓輸出、電流輸出、溫度采集、超聲波測距等測試項目的演示，吸引了眾多高校師生的目光。

　　泛華測控多功能數據采集儀

　　會議期間，泛華另一款產品“便攜式測振儀”引起了英國劍橋光電子與傳感器組教授、主任初大平的興趣，他來到展位前，認真觀看了產品的外形、軟件界面，并詢問了產品的使用環境、功能以及適用領域。“這款產品最大特點的是便攜，適用于實驗室及外場，尤其解決了普通機箱在實驗室中移動不便的問題，并擁有專業的分析算法，提供基本分析和高級分析的功能，非常適合實驗室、研究所等科研環境的需要。”泛華現場工程師向其介紹道。

　　劍橋教授初大平蒞臨泛華展臺參觀

　　ICEMI會議是當前電子測量與儀器領域頂級的學術盛會，兩年一屆，來自全球的數百位專家、教授、學者、工程技術人員齊聚于此，為行業的發展、科研的未來及尖端技術的前景群策群力。泛華測控作為一家為致力于為各行業用戶提供高品質測試測量解決方案和成套檢測設備的企業，有責任貢獻出一份力量。

　　嘉賓與工程師現場熱烈交流