是德科技為低壓高分辨率 FE-SEM 系統增添完全集成的 EDS 功能

　　是德科技公司日前宣布，其最新型場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術領先的緊湊型低電壓 FE-SEM(場發射掃描電子顯微鏡)，可以為科學家提供強大的能譜分析功能。

　　這款場即插即用型發射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡單，只需連接交流電源插座即可使用，是各類實驗室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。

　　最新 8500B 系統具有完全集成的硅漂移 x 射線探測器、數字多通道分析儀和直觀的軟件界面，因此研究人員可以使用EDS對任意點、連續線掃描結果以及自定義區域的定量元素面分布進行分析。Keysight 8500B 可以探測從碳到镅的所有元素。

　　8500B 不僅能夠實時分析和顯示 EDS 結果，還能導出數據以供研究人員進行后續的離線分析。是德科技專利的事件流譜圖成像技術使用戶可以保存每個像素的完整譜線，用于日后的分析和顯示。動態元素面分布功能使用戶可以實時選擇或編輯元素，并可在譜圖采集的同時對元素和處理參數進行選擇和調整。

　　8500B 提供多種低電壓成像技術，不僅能夠增強表面對比度，還能觀察各種納米結構材料的納米級特性，例如：聚合物、薄膜、生物材料以及在任何基底(甚至是玻璃)上的其他對電子束輻照比較敏感的樣品。這種獨特的緊湊型全靜電場透鏡和電子鏡筒設計使其一致性和可重復性得到了更好的保證，因此用戶無須再經常對電子鏡筒進行調整。

　　此外，Keysight 8500B FE-SEM 為低電壓工作提供了優化的連續可調整加速電壓，這使得不導電樣品表面鍍金的需求得到最大程度的減少。由軟件自動程控的X/Y/Z 樣品臺使樣品導航變得更為方便簡單。

　　Keysight 8500B 的圖片請參見 www.keysight.com/find/8500_images。其他 FE-SEM 研究圖片請參見 www.keysight.com/find/fe-sem。