尼得科精密檢測科技參展PCIM Expo & Conference 2025
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尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）將參展2025年5月6日（星期二）～５月８日（星期四）在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。
AC/DC Capacitance tester
Probe Card
NATS-1000
在本次展會上，電力電子行業將匯聚一堂，旨在跨越國界共同探索最新的研發趨勢，整個行業共同分享創意，提供解決方案。
本公司在本次展會上將展示從芯片（Chip）級到系統級面向功率器件的先端檢測系統。此外，還將現場實際演示有助于縮短研發周期的HILS（Hardware-In-the-Loop Simulation）平臺。
今后，本公司將繼續以行業先端的測量和檢測技術為全球制造業做出貢獻。
〈參展概要〉
?展期：2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)
?展館：德國紐倫堡市 NürnbergMesse展覽中心
?展位：4-432
〈參展內容〉
?用于IGBT/SiC功率模塊的絕緣/靜態特性/動態特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”
?SiC模塊可靠性測試裝置“NATS-8000系列”
?電機測試臺用逆變器&POWER HIL電機模擬器 “R-1100”
?運用AI技術的xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator?”
?AC/DC電容測量用多功能測試儀“R-700系列”
?半導體器件穩定測量探針“TC-Probe”
?適用于高電壓的加壓結構探針卡 “Chamber head Probe Card”
?適用于高溫/高電流的探針 “3H+ Probe”
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