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    尼得科精密檢測(cè)科技將參展CPCA Show 2025

    作者: 時(shí)間:2025-03-19 來(lái)源:EEPW 收藏

    科技株式會(huì)社(以下簡(jiǎn)稱“本公司”)將參展2025年3月24日(周一)~3月26日(周三)于上海國(guó)家會(huì)展中心舉辦的“ 2025(2025上海國(guó)際電子電路展)”.

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/202503/468362.htm

    本次展會(huì)由中國(guó)電子行業(yè)協(xié)會(huì)主辦,是全球電子電路市場(chǎng)最專業(yè)的展會(huì)之一,展出包括用于各種電子、信息通信、控制設(shè)備的電子電路和裝配技術(shù)等。

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    在本公司的展位上,將展示并現(xiàn)場(chǎng)演示名為“STAR REC-M1”的、用于HDI電路板的電氣檢測(cè)裝置,適用于近年來(lái)隨著EV等的普及、市場(chǎng)需求日益增長(zhǎng)的HDI電路板的檢測(cè)。該設(shè)備是一款針對(duì)中端市場(chǎng)新開(kāi)發(fā)的型號(hào),兼具高速高性能和性價(jià)比。此外,我們還將介紹新推出的電氣檢測(cè)、光學(xué)外觀檢測(cè)技術(shù)和高精度檢測(cè)夾具。歡迎蒞臨我們的展位。

    〈參展概要〉

    ?   會(huì)期:2025年3月24(周一)~26日(周三)

    ?   會(huì)場(chǎng):上海國(guó)家會(huì)展中心

    ?   展位:7D08

    〈主要展品〉

    ?   HDI/PCB電路板用導(dǎo)通/短路檢測(cè)設(shè)備 “STAR REC系列”

    ?   半導(dǎo)體封裝用導(dǎo)通/短路檢測(cè)設(shè)備 “GATS系列”

    ?   高密度電路板用光學(xué)2D/3D檢測(cè)設(shè)備 “RSH系列”

    ?   高精度檢測(cè)夾具

    ?   IGBT/SiC功率模塊檢測(cè)設(shè)備 “NATS系列”

    ?   xEV電機(jī)測(cè)試臺(tái)“TDAS系列”

    ?   xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator”



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