杜絕這兩個電路設計失誤！

　　今天寫兩個電路設計失誤，第一個是由于電流增益不夠引起的，該電路是參考別的設計者引發(fā)的，看了之后可以了解一些知識。

　　第一個失誤的主要原因是，設計者錯誤估算了R1的大小。其設計的值太大，導致Ib太小。

　　這里把等效的模型轉(zhuǎn)換成如下：

　　以上的模型描述了輸入和輸出的模型，正式計算的分成兩個部分。

　　求解基極電流Ib

　　求解集電極電流Ic

　　求解放大比例

　　通過這個比例可得到三極管的狀態(tài)，如果在線性區(qū)，則三極管的管壓降Vce是變化的，這就導致了邏輯的問題。這種錯誤就是，某種狀態(tài)識別不出來。

　　從某種角度來看，這其實是一個電平轉(zhuǎn)換的問題，只不過用三極管隔離了一下而已。

　　反正我個人不推薦這種接法，因為限制太大會導致三極管欠飽和，進入線性區(qū)。如果限流太小，則在高頻脈沖浪涌沖擊下會失效。

　　現(xiàn)在越來越多的采用專用接口電路來處理這種電路，不過因為可能存在直接短路到地或者電源的錯誤（ISO16750-2規(guī)定的）。因此這個問題就很棘手了，輸入部分其實都是大問題，因為你永遠不想在信號進入的時候就是錯誤的。

　　原本設計的好好的電路，由于開關的導通電阻變化，導致電路對這個參數(shù)變化起不了調(diào)節(jié)作用，因此原本有效的信號，在MCU處理過程中完全成了無效的信號了。

　　開關導通電阻值主要取決于開關觸頭的接觸電阻。接觸電阻值是開關觸點接觸工作性能的最基本參數(shù)，接觸電阻的大小直接反映開關觸點接觸的可靠性。

　　實際上接觸電阻隨著開關的老化和磨損，導通電阻是有變化的。國外的整車商都規(guī)定了開關的最壞的導通電阻的情況，在國內(nèi)一般不會考慮這個阻值（一般也無法控制的太精確。）

　　需要注意的是，現(xiàn)在我們看到的開關里面的導通電阻參數(shù)，一般是通過測量開關導通電阻值。

　　而比較正規(guī)的做法是，需要通過老化實驗，測量導通電阻，估計觸頭的磨損程度和回路的接觸情況，從而預測觸頭的壽命。（老化實驗）

　　因此設計的時候需要有足夠的余量，有兩條原則。

　　第一條，設想你可能遇到的最壞的情況，在這個條件下去設計。

　　第二條，努力保證模塊不會進入最壞的條件模式。