日置即將推出最新IM3570阻抗分析儀

　　一臺儀器就可以實現不同測量條件的高速檢測要求

　　即將發售的阻抗分析儀IM3570是測量頻率4Hz~5MHz，測試電平5mV~5V的LCR電橋與阻抗分析儀合二為一的儀器。因為對應不同測量條件都能高速連續測量，所以在需要使用眾多儀器檢查的生產線上，僅IM3570一臺便可實現。

　　壓電元件的共振特性的測量

　　通過頻率掃頻測量共振頻率和當時的阻抗值，利用比較功能判別是否合格。另外，通過連續測量的功能，1KHz的 C值測量(LCR電橋)和頻率掃頻測量都能在這一臺儀器上實現。

　　功能高分子電容等的C-D值和低ESR測量

　　能夠連續測量功能性高分子電容的C-D值以及低ESR(100kHz)

　　與之前的產品(3522-50,3532-50)相比，低阻抗測量時的絕對精度和反復精度都提升了1位。

　　電感(線圈、變壓器)的DCR和L-Q測量

　　連續測量L-Q(1kHz，CC1mA)和DCR，能在同一畫面上顯示數值。

　　通過掃頻測量，能夠用圖表來顯示頻率特性和電平特性。

　　阻抗分析儀IM3570的介紹

　　推薦用于生產線中的特點和功能

• 按照不同測量條件進行連續測量

　　根據測量對象，1臺儀器可連續測量必須的多種測量條件。例如：可進行DCR(直流電阻)和L-Q的連續測量、以及C-D(120Hz)和ESR(100kHz)的連續測量。

• 通過高速測量加快檢查速度

　　縮短測量時間、實現最快2ms(1kHz)、1ms(100kHz)。和日置以往產品(代表值5ms)相比，大幅提高了速度，從而有利于增加檢查數量。

• 和以往產品相比，反復精度提高了1位

　　和以往產品相比，將低阻抗測量時、高頻測量時的反復精度提高了1位。在提高了測量值的可信度的同時，可縮小設置生產線的判斷標準的幅度。

• 具備接觸檢查功能

　　利用4端子測量(僅低阻抗高精度模式時)、2端子測量的接觸檢查功能，可防止測量電極為接觸被測物的情況下測量。

• 測量線可延長至4m

　　利用4端子的結構減小測量線的影響，以測量線長0/1/2/4m來保證精度。便于自動機的接線。

• 可在內部發生DC偏壓

　　僅主機可外加并測量最大2.5V的DC偏壓。可安心測量鉭電容等有極性的電容。

• DC~5MHz可使用的4端子探頭

　　4端子探頭L2000(選件)采用有利于特性阻抗50Ω和提高測量精度的4端子構造，是最適合于IM3570的探頭。

　　推薦用于研發的特點和功能

• 頻率掃頻測量和電平掃頻測量

　　可對頻率特性(4Hz~5MHz)和電平特性進行掃描和測量。輕松把握特性。

• 可廣范圍的改變測量條件

　　測量頻率4Hz~5MHz(5位分辨率)

　　測量電平5mVrms~5Vrms(1mVrms分辨率)

• 觸摸屏設計，輕松操作

　　延續以往產品中操作簡單的觸摸屏設計。采用了彩色液晶面板，能夠清晰的顯示數據，還具備優良的操作性，從而提高作業人員的工作效率。

• U盤

　　可將測量結果和設定保存至前端面板連接的U盤中。

• PC控制和PC軟件

　　標配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。