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用Big Analog Data直面CPS應(yīng)用挑戰(zhàn)
- ?在NIWeek 2013現(xiàn)場，筆者有幸面對面專訪了NI聯(lián)合創(chuàng)始人 CEO Dr Truchard(Dr T)，面對這位工程師出身，并且一直堅持以新技術(shù)帶動公司快速成長的“技術(shù)狂人”，筆者的問題也集中在對現(xiàn)在和未來一些技術(shù)的探討。? 從圖形化系統(tǒng)設(shè)計，到軟件即是儀器的虛擬儀器，從LabVIEW到PXI，Dr T 引領(lǐng)著NI帶給電子產(chǎn)業(yè)一個又一個逐漸成為技術(shù)主流趨勢的概念和技術(shù)，這也是Dr T和NI帶給整個業(yè)界最大的價值所在?，F(xiàn)在，NI再次提出Big A
- 關(guān)鍵字： NI Big Analog Data CPS 測試測量
LabVIEW新手5大錯誤
- 雖然NI LabVIEW軟件長期以來一直幫助工程師和科學家們快速開發(fā)功能測量和控制應(yīng)用，但不是所有的新用戶都會遵循LabVIEW編程的最佳方法。 LabVIEW圖形化編程比較獨特，因為只需看一眼用戶的應(yīng)用程序，就馬上可以發(fā)現(xiàn)用戶是否遵循編碼的最佳方法。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW 數(shù)據(jù)流 子VI 程序框圖
NI 由內(nèi)而外重新設(shè)計 CompactRIO
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)- NIWeek - 于近日發(fā)布全新的cRIO-9068軟件定制的控制器( software-designed controller )，它經(jīng)過完全的重新設(shè)計，但仍舊保持NI LabVIEW及I/O 與CompactRIO的完整兼容性。
- 關(guān)鍵字： NI CompactRIO LabVIEW 嵌入式
構(gòu)建以軟件為中心的下一代自動化測試系統(tǒng)
- 測試管理人員和工程師們?yōu)榱吮ＷC交付到客戶手中的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，在各種應(yīng)用領(lǐng)域 (從設(shè)計驗證，經(jīng)終端產(chǎn)品測試，到設(shè)備維修診斷) 都采用自動化測試系統(tǒng)。他們使用自動測試系統(tǒng)執(zhí)行簡單的“通過”或“失敗”測試，或者通過它執(zhí)行一整套的產(chǎn)品特性測試。
- 關(guān)鍵字： NI PXI LabVIEW 測試系統(tǒng) 自動化測試
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