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STAR存儲器 FinFET存儲器 SOC
- FinFET存儲器的設計挑戰以及測試和修復方法-現在，隨著FinFET存儲器的出現，需要克服更多的挑戰。這份白皮書涵蓋：FinFET存儲器帶來的新的設計復雜性、缺陷覆蓋和良率挑戰；怎樣綜合測試算法以檢測和診斷FinFET存儲器具體缺陷；如何通過內建自測試（BIST）基礎架構與高效測試和維修能力的結合來幫助保證FinFET存儲器的高良率。
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