- 先進的數字處理器IC要求通過單獨的DC參數和高速數字自動測試設備(ATE)測試，以達到質保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數測試和高速數字測試，從而降低測試成本，簡化數字/RF片上系統(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上，以測試數字SoC ATE挑戰半導體市場在不斷發展，為5G調制解調器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
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MEMS開關 SoC測試
mems開關介紹
MEMS開關就是MEMS技術的具體應用。顧名思義,開關就是來控制電路通斷狀況的，高效、快速反應、準確、重復使用頻率、高可靠性是現代電路系統對開關的特殊要求。MEMS開關的研究始于1979年IBM的K.E.Peterson，隨后經過了二十幾年的發展，由于薄膜的柔軟和變形，MEMS開關始終沒有取得人們預期的成績。隨著通訊頻率的不斷增高，現有的半導體開關因不能滿足頻率的升高而失去開關能力。MEMS開關的 [
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