- O 引 言Z掃描是一種應用于光學非線性測量的方法，使用這種方法可以測量光學材料非線性折射率的大小、正負以及非線性吸收系數。因為通過光學材料
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高速并行 D轉換 高頻 幅值
- 電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
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ADSP2106X 高速并行 雷達 數字信號 處理系統
- 摘要：介紹一種基于四通道ADC的高速交錯采樣設計方法以及在FPGA平臺上的實現。著重闡述四通道高速采樣時鐘的設計與實現、高速數據的同步接收以及采樣數據的校正算法。實驗及仿真結果表明，同步數據采集的結構設計和預
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FPGA 高速并行 采樣技術
- 1 經典采樣理論
模擬世界與數字世界相互轉換的理論基礎是抽樣定理。抽樣定理告訴我們，如果是帶限的連續信號，且樣本取得足夠密(采樣率ωs≥2ωM)，那么該信號就能唯一地由其樣本值來表征，且能從這些樣本值完
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時鐘分配 高速并行 芯片 數據采集
- O 引 言
Z掃描是一種應用于光學非線性測量的方法，使用這種方法可以測量光學材料非線性折射率的大小、正負以及非線性吸收系數。因為通過光學材料的激光能量大小與光電接收器轉換后獲得的電壓幅值成某種比例關系
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高速并行 D轉換 高頻 幅值
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