- 在半導體領域，隨著技術的不斷演進，對CMOS（互補金屬氧化物半導體）可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能（AI）、5G通信和高性能計算（HPC）等前沿技術的推動下，傳統的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術在CMOS可靠性測試中的應用，以及它如何助力這些新興技術的發展。引言對于研究半導體電荷捕獲和退化行為而言，交流或脈沖應力是傳統直流應力測試的有力補充。在NBTI（負偏置溫度不穩定性）和TDDB（隨時間變化的介電擊穿）試驗中，應力/測量循環通常采用直流信號，因其易于映射到器件模型中。然而，結
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CMOS 可靠性測試 脈沖技術 AI 5G HPC 泰克科技
脈沖技術介紹
脈沖技術
pulse technique
脈沖信號的變換、產生和應用技術。脈沖信號的波形在某一時間內有突發性和斷續性的特點，幾種理想的脈沖信號波形有方波、矩形波、三角波、尖頂脈沖波和鋸齒波等。
脈沖技術在電子技術中起著非常重要的作用，它已廣泛應用于電子計算機、通信、雷達、電視、自動控制、遙控遙測、無線電導航和測量技術等領域。
常見的線性波形變換電路有微分電路和積分電路。另 [
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