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科利登GlobalScan-I解決系統(tǒng)定位復雜設計和成品率問題
- 科利登系統(tǒng)有限公司日前宣布：突出GlobalScan-I系統(tǒng)－用于器件物理分析和定位工藝性能成品率問題的新型集成電路診斷系統(tǒng)。GlobalScan-I能夠鑒別出通常被測試失效分析和調試方法遺漏的失效源，這一特點可以實現(xiàn)快速的設計修正，從而降低掩模重加工成本并縮短產品進入量產時間。 科利登董事會主席兼首席執(zhí)行官Graham Siddall博士說：“現(xiàn)代集成電路呈現(xiàn)廣泛的失效模式，從結構化失效到間歇的或敏感的缺陷，可能的根本原因會有很多。通過隔離與設計或制造工藝無關的問題，用戶能夠通過提高產品性能和
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科利登任命David A. Ranhoff為首席執(zhí)行官
- 科利登系統(tǒng)有限公司(納斯達克代碼：CMOS，世界半導體行業(yè)領先的提供從設計到生產全套測試解決方案的供應商)日前宣布：現(xiàn)任主席和首席運營官David A. Ranhoff將擔任公司的首席執(zhí)行官，從2005年1月1日起開始生效。而公司的現(xiàn)任CEO, Graham J. Siddall 博士，將繼續(xù)擔任董事會執(zhí)行主席。這次人事變動是公司戰(zhàn)略繼任計劃的一部分，這個計劃是由公司的執(zhí)行團隊和董事會在幾年前設立的。作為公司新的管理架構的一部分，先前由Ranhoff擔任的首席運營官的職位將被取消。 “這次任命顯
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新型科利登GlobalScan-I系統(tǒng)定位復雜設計和成品率問題
- 科利登系統(tǒng)有限公司(納斯達克代碼：CMOS，世界半導體行業(yè)領先的提供從設計到生產全套測試解決方案的供應商)日前宣布：突出GlobalScan-I系統(tǒng)－用于器件物理分析和定位工藝性能成品率問題的新型集成電路診斷系統(tǒng)。GlobalScan-I能夠鑒別出通常被測試失效分析和調試方法遺漏的失效源，這一特點可以實現(xiàn)快速的設計修正，從而降低掩模重加工成本并縮短產品進入量產時間。科利登董事會主席兼首席執(zhí)行官Graham Siddall博士說：“現(xiàn)代集成電路呈現(xiàn)廣泛的失效模式，從結構化失效到間歇的或敏感的缺陷，可能的根本
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科利登任命David A. Ranhoff為首席執(zhí)行官，繼續(xù)執(zhí)行經(jīng)營策略
- 科利登系統(tǒng)有限公司日前宣布：現(xiàn)任主席和首席運營官David A. Ranhoff將擔任公司的首席執(zhí)行官，從2005年1月1日起開始生效。而公司的現(xiàn)任CEO, Graham J. Siddall 博士，將繼續(xù)擔任董事會執(zhí)行主席。這次人事變動是公司戰(zhàn)略繼任計劃的一部分，這個計劃是由公司的執(zhí)行團隊和董事會在幾年前設立的。作為公司新的管理架構的一部分，先前由Ranhoff擔任的首席運營官的職位將被取消。 “這次任命顯示出David在科利登的發(fā)展和管理方面所扮演的重要的角色”， Graham博士，科利登系
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科利登加入PCI-SIG和HyperTransport組織
- 來自美國加州苗必達市(Milpitas)的消息――科利登系統(tǒng)公司(納斯達克代碼：CMOS，世界半導體行業(yè)領先的提供從設計到生產全套測試解決方案的供應商)日前宣布，公司已經(jīng)加入外設組件互連特殊研究組（Peripheral Component Interconnect-Special Interest Group ，簡稱PCI-SIG
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日月光定購多臺科利登的SoC測試系統(tǒng)Octet
- 來自美國加州弗雷蒙特市的消息--日月光測試有限公司（納斯達克股票代碼：ASTSF）業(yè)界最大的獨立半導體測試服務供應商定購了22臺科利登的SoC 測試系統(tǒng)，包括多臺高性能的Octet，用于計算機芯片組和圖形器件的高量產生產測試。日月光之所以選用該系統(tǒng)是基于其成熟的成本效益高的系統(tǒng)性能和測試能力，可以滿足下一代器件技術，如高速總線系統(tǒng)，不斷增長的對測試系統(tǒng)測試容量和范圍的要求。日月光美國、歐洲兼日本區(qū)總裁Tien Wu說：“科利登的SoC測試系統(tǒng)提供給我們客戶可持續(xù)的產品面市和成本優(yōu)勢。Octet與科利登Qu
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