- _____在現代ULSI電路中溝道熱載流子（CHC）誘導的退化是一個重要的與可靠性相關的問題。載流子在通過MOSFET通道的大電場加速時獲得動能。當大多數載流子到達漏極時，熱載流子（動能非常高的載流子）由于原子能級碰撞的沖擊電離，可以在漏極附近產生電子—空穴對。其他的可以注入柵極通道界面，打破Si-H鍵，增加界面態密度。CHC的影響是器件參數的時間相關的退化，如VT、IDLIN和IDSAT。這種通道熱載流子誘導的退化（也稱為HCI或熱載流子注入）在NMOS和PMOS器件上都可以看到，并會影響所有區域的器件
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4200A 矩陣開關 可靠性評估平臺 Clarius軟件 泰克
- 提出了基于NIOS Ⅱ處理器的大規模矩陣開關的設計原理與實現方法，介紹了矩陣開關的特點和結構，重點論述了NIOS Ⅱ處理器和矩陣開關電路的設計。最后，說明了設計的矩陣開關在板級測試系統中的應用及其效果。
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矩陣開關 NIOSⅡ 板級測試系統
- 本文采用FPGA作為實現控制邏輯的核心部件，提出了基于FPGA的基帶64×64 數據分配矩陣設計方案，并介紹了上位機的軟件設計思路和FPGA的內部編程實現及仿真。經驗證該方案具有規模大、成本低、高速等特點，可廣泛應用于大規模基帶數字系統測試及信號程控分配調度中。
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Altera FPGA 矩陣開關 ARM 基帶數字
- BRIC是一種高密度開關矩陣，能夠占據4或8口的PXI target=_blank>PXI的所有插槽。BRIC采用模塊化結構，這樣可以建立不同規模的矩陣，并且可以由用戶自己定義X軸和Y軸上的節點數量。
基本的BRIC包含一個
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BRIC 矩陣開關
- 關鍵字：測試系統 矩陣開關對于任何測試系統來說，開關系統都是至關重要的一部分。它可以將待測單元（DUT）的接入點和各種不同的資源進行連接，并且對設備進行測試，從而核實設備中的這部分功能的效用。開關可以給很
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測試系統 矩陣開關 方法
矩陣開關介紹
矩陣開關顧名思義，指結構為行(Row)列(Column)交叉排布的開關產品，其特點為每個節點(CrossPoint)連接一個行/列，每個節點可以單獨操作，通過設置節點的不同組合可以實現信號的路由。矩陣開關的使用非常靈活方便，是目前程控開關產品中品種最多的產品，在汽車電子、半導體測試、航空航天等領域得到了廣泛的應用。 內部128模擬開關、內部地址譯碼及鎖存控制； 低導通電阻，且保證導通電阻的 [
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