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    測(cè)試機(jī)臺(tái) 文章 最新資訊

    惠瑞捷發(fā)布業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列

    •   Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列,可用來測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。   Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái),與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容。
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    測(cè)試機(jī)臺(tái)介紹

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    歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)測(cè)試機(jī)臺(tái)的理解,并與今后在此搜索測(cè)試機(jī)臺(tái)的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

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