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    晶圓級rf測試 文章 最新資訊

    IC芯片的晶圓級射頻(RF)測試

    • 對于超薄介質,由于存在大的漏電和非線性,通過標準I-V和C-V測試不能直接提取氧化層電容(Cox)。然而,使用高頻電路模型則能夠精確提取這些參數。隨著業
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