探針 文章 最新資訊
測試探針國產化，道阻且長
- 芯片測試是確保產品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié)，主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實現(xiàn)設計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標，以此判斷芯片性能是否符合標準，是否可以進入市場。隨著產品進入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時代，芯片內部集成的模塊越來越多，生產制造過程中的失效模式也相應增多，芯片測試的重要性凸顯。測試探針就是芯片測試過程中的重要零部件之一。測試探針通常與測試機、分選機、探針臺配合使用，通過連接測試機來檢測芯片的導通、電流、功能和老化情況等性能指標，篩選出存在設計缺陷和制造缺陷的產品
- 關鍵字： ?芯片測試 探針
Pasternack推出擴展至40GHz工作頻率且采用彈簧頂針設計的同軸射頻探針產品線
- 業(yè)界領先的射頻、微波及毫米波產品供應商美國Pasternack公司最近將其射頻同軸探針產品線擴展至40GHz工作頻率范圍，以應用于微波器件、高速通信及網絡領域。 擴展后的Pasternack同軸射頻探針產品線共包括4種型號，其在直流~40GHz寬頻范圍內的最大回波損耗為10dB。這些探針產品分為GS和GSG兩種構型，間距為800或1500微米，并采用2.92mm接口。此外，此類射頻同軸探針均為鍍金探針，采用可在大角度范圍內進行探測的兼容彈簧頂針觸點，允許在帶或不帶探針定位器的情形下手動使用，并可通過
- 關鍵字： Pasternack 射頻探針 40GHz GS和GSG 探針 信號完整性測量
安捷倫科技與海力士半導體公司聯(lián)合推出用于驗證 DDR、GDDR 存儲器的長線 ZIF 探針
- 安捷倫科技公司宣布：安捷倫與全球領先的半導體存儲器產品供應商――海力士半導體公司（Hynix Semiconductor Inc.）攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF（零插入力）探針，該探針經過優(yōu)化，適用于 DDR（雙數(shù)據(jù)速率）和 GDDR（圖形雙數(shù)據(jù)速率）SDRAM 的驗證測試。當距離探測信號較遠時，長線 ZIF 探針使工程師能夠對高速信號進行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統(tǒng)結合使用，可提高每個焊接件的可用性并降低測試成本。
- 關鍵字： 安捷倫，海力士半導體，ZIF 探針
探針介紹
測試針，用于測試PCBA的一種探針。 表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。 探針根據(jù)電子測試用途可分為： A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品； B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發(fā)成功，可替代進口探針產品； C、 [ 查看詳細 ]
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