- 芯片測試是確保產品良率和成本控制的重要環節，主要目的是保證芯片在惡劣環境下能完全實現設計規格書所規定的功能及性能指標，以此判斷芯片性能是否符合標準，是否可以進入市場。隨著產品進入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時代，芯片內部集成的模塊越來越多，生產制造過程中的失效模式也相應增多，芯片測試的重要性凸顯。測試探針就是芯片測試過程中的重要零部件之一。測試探針通常與測試機、分選機、探針臺配合使用，通過連接測試機來檢測芯片的導通、電流、功能和老化情況等性能指標，篩選出存在設計缺陷和制造缺陷的產品
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?芯片測試 探針
- 一款帶水位檢測的產品在進行加速老化壽命測試的時候發現水位檢測探針出現銹蝕、斷裂的故障，嚴重的還出現了水位檢測探針被銹蝕斷開的現象。經過測試和分析，判斷為水位檢測電路設計缺陷，從而導致其中一根水位探針上電流過大引起的電解腐蝕和結垢問題。本文對失效原理進行了分析并對電路設計進行了改進，有效提高了探針壽命。
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水位檢測 探針 腐蝕 結垢 TDS 202010
- 業界領先的射頻、微波及毫米波產品供應商美國Pasternack公司最近將其射頻同軸探針產品線擴展至40GHz工作頻率范圍，以應用于微波器件、高速通信及網絡領域。 擴展后的Pasternack同軸射頻探針產品線共包括4種型號，其在直流~40GHz寬頻范圍內的最大回波損耗為10dB。這些探針產品分為GS和GSG兩種構型，間距為800或1500微米，并采用2.92mm接口。此外，此類射頻同軸探針均為鍍金探針，采用可在大角度范圍內進行探測的兼容彈簧頂針觸點，允許在帶或不帶探針定位器的情形下手動使用，并可通過
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Pasternack 射頻探針 40GHz GS和GSG 探針 信號完整性測量
- 在找到治療阿爾茨海默癥的療法之前，科學家們需要開發出一種能夠讓他們更好地理解大腦神經間是如何溝通的方案。而密歇根大學的研究人員們，最近就朝著這個目標大幅邁進了一步，并且開發出了當前最小的腦植入式LED探針。在光遺傳學領域，植入光纖被用于刺激大腦細胞(讓其暴露于光脈沖下)，而第二個設備則會記錄下一步的反應。
密歇根大學的科學家們表示，這樣的設置其實不能記錄神經元見相互溝通的方式，但是他們的新型探針卻可以。
每根探針的寬度都小于0.1mm
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LED 探針
- 電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
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過渡結構 探針 金屬桿 微帶密封
- 隨著科學技術的不斷發展，醫學生化檢驗全面步入現代化的進程，全自動生化分析儀器為我們工作提供了快速、準確...
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生化分析儀 交叉污染處理 探針
- 熒光成像已經被用到基因、細胞和活體的研究中來，而在活體情況下所面臨的挑戰最多。1.自發熒光的可...
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光譜信號 探針 熒光成像
- 和其他行業一樣，制藥業也越來越要求更高的生產力和更可靠的儀器。在需要用到連續液位計的時候，制藥商更愿意選...
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液位計 測量方法 探針
- 1．熱線探針熱線探針的簡單模型如圖所示．細長的金屬絲垂直于氣流方向安置，兩端固定在相對粗大的支架上，金屬絲由...
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熱線測速計 敏感元件 探針
- 關鍵字：半導體參數 接觸電阻通常，參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片
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半導體 參數測試 探針 接觸電阻
- 引言 靜電探針又稱langrnuir探針，是一種用來進行等離子體參數測量的基本的診斷工具，通過靜電探針的，I-V特性曲線可以計算出等離子體的電子溫度、密度、空間電位和懸浮電位等重要參數。靜電探針，I-V特性曲線如圖
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測量 系統 自動 探針 單片機 靜電 基于
- 1 引言
目前工業化作業工作溫度非常寬泛，若要準確測量溫度需采用智能溫度控制儀。因此，該智能溫度控制儀以熱敏電阻外加恒流源作為溫度傳感器，將溫度信號以電壓信號形式采集，經放大A／D轉換器轉換，傳輸至單
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探針 控制儀 智能溫度
- 納米級電氣特性研究納米級材料的電氣特性通常要綜合使用探測和顯微技術對感興趣的點進行確定性測量...
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負載 接觸 機械 壓力 探針 函數
- 安捷倫科技公司宣布：安捷倫與全球領先的半導體存儲器產品供應商――海力士半導體公司（Hynix Semiconductor Inc.）攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF（零插入力）探針，該探針經過優化，適用于 DDR（雙數據速率）和 GDDR（圖形雙數據速率）SDRAM 的驗證測試。當距離探測信號較遠時，長線 ZIF 探針使工程師能夠對高速信號進行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統結合使用，可提高每個焊接件的可用性并降低測試成本。
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安捷倫，海力士半導體，ZIF 探針
- 由中科院長春應化所完成的中科院科研裝備研制項目——毛細管電泳電化學發光微型綜合分析儀，近日在長春通...
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微流控芯片 檢測 發光 探針
探針介紹
測試針，用于測試PCBA的一種探針。 表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。 探針根據電子測試用途可分為： A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品； B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品； C、 [
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