- 引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業標準方法，大多數復雜電子系統都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
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JTAG 技術的嵌入式 系統測試
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