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    JTAG測試(05-100)

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    作者: 時間:2009-02-23 來源:電子產品世界 收藏

      小變化,大影響

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/91571.htm

      準備和采用邊界掃描測試方式有一個小變化,但對于加速開發,以相同的時間克服測試探針接入問題提供更大的機會。例如,器件為中心的測試能和在制作樣機PCB前驗證排線表列。在硬件設計過程中,設計人員也可以精確地評估測試的有效范圍,若必要,也可想辦法提高測試有效范圍。其后,當首批板從制造返回時,可用來行使板功能,例如,可以測試功能框圖(如存儲器子系統和硬外設),并在軟件準備好之前,集中注意任何硬件缺陷,以便修補。

      SoC受益

      靈活、以器件為中心的JTAG工具另一應用領域是流行的SoC(系統芯片)裝置。SoC復雜性正在增加,特別是現在更多設計用嵌入式芯核在小的芯片面積內增加功能。JTAG為快速和精確的硬件— 軟件衫詞迪執砥韉魘越涌冢峁┮桓齜獎愕墓ぞ摺K孀乓的詬嗟娜艘巖饈兜皆誑朔導屎圖逼炔饈暈侍庵蠮TAG的潛能,現在市場上JTAG依從元件比兩年前多很多。然而,在系統CAD排線表列中連接一個JTAG器件,測試非JTAG器件也是可能的。

      Cambridge Technology Group 在IP電話設計中成功地測試一個非JTAG依從的Ethernet 控制器。而用(開發人員用的一種新的JTAG工具),人們能夠用元件制造商的數據來生成一個描述文件,能寫實際的Ethernet信息包到控制器而不運行處理器。通過環回連接器讀信息包返回,使能IP電話Ethernet 功能,進行全部的測試。

      較少的用戶描述

      正在出現JTAG依從外設,工程師只需編寫較少的用戶描述。另外,一些器件沒有JTAG依從形式。例如SDRAM模塊和閃存器件對成本特敏感,而且更迭非常快。用高頻語言(如的XJease)生成器件為中心的測試使得能快速和精確地產生器件的描述,并在以后設計中可重新使用。

      JTAG在整個產品壽命期正在變得重要。很多方面都可從JTAG中受益,這包括設計驗證、樣機調試、測試工程和早期樣機測試以及產品測試和在現場進行板的測試、更新和維修。

      工程技術人員需要一個解決方案,用在產品壽命期的不同階段。關鍵準則包括重新可用的測試描述,容易移植在不同的板上,以節省工程師時間以及測試JTAG和非JTAG器件的能力。

      下一代工具

      設計實現上述規則的下一代JTAG工具的特性包括文件鎖定來保護已通過測試的程序,防止未許可或非控制存取和編輯。對于給定板或產品,封裝所有文件為單個文件,這使得在不同計算機或工作站之間容易傳輸。允許容易地分配文件鎖定測試到產品部門、制造伙伴或現場組。

      是JTAG工具中最強大的一種,它也提供稱之為XJRunner的單獨運行環境。主要目的在于制造現場和現場支持,它共享主要工具的GUI,它能解碼和解壓縮分組測試文件。也能為一組板產生序列號和接口條形碼讀機,以支持跟蹤能力或計算編程MAC地址。■(京湖)


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