USB3.0的物理層發送端測試方案介紹

　　USB簡介

　　USB(Universal Serial Bus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標、打印機、掃描儀、數碼相機、MP3、U盤等外圍設備連接到計算機，它使計算機與周邊設備的接口標準化，從 2000年以后，支持USB2.0版本的計算機和設備已被廣泛使用，USB2.0包括了三種速率：高速480Mbps、全速12Mbps、低速 1.5Mbps。目前除了鍵盤和鼠標為低速設備外，大多數設備都是速率達480M的高速設備。

　　盡管USB2.0的速度已經相當快，對于目前高清視頻和動輒GByte的數據傳輸還是有些慢，在2008年11月，HP、Intel、微軟、NEC、ST-NXP、TI聯合起來正式發布了 USB3.0的V1.0規范。USB3.0又稱為Super Speed USB，比特率高達5Gbps，相比目前USB2.0的480Mbps的速率，提高了10倍以上，引用Intel專家Jeff Ravencraft的話：“以25GB的文件傳輸為例，USB2.0需要13.9分鐘，而3.0只需70秒左右。”25GB，正好是單面單層藍光光盤的容量。USB3.0預計將在2010年逐漸在計算機和消費電子產品上使用。

　　力科于2009年4月發布了USB3.0的物理層測試解決方案，能提供端到端的互操作測試和兼容性測試，包括了Transmitter測試、Receiver測試、TDR測試。此外，力科還提供了業界領先的USB3.0協議層測試方案。

　　USB3.0的Transmitter測試

　　對于USB3.0的Transmitter測試，為了測量到5次諧波，需要帶寬12.5GHz以上的示波器，力科的SDA813Zi帶寬 13GHz，采樣率40GSamples/s（最高可達80GS/s），配合USB3.0一致性測試軟件QualiPHY、眼圖醫生軟件和測試夾具，可以快速完成USB3.0的發送端Compliance測試和調試分析。QualiPHY軟件可以使USB3.0發送端的各項測試自動化，并生成多種格式的測試報告。在QualiPHY的USB3.0測試軟件中，包括差分電壓擺幅測試、去加重比值測試（De-emphasis ratio test）、眼圖和抖動測試、擴頻時鐘測試（Spread Spectrum Test），圖1所示為報告中的整體測試項目概覽，列出了測試項目對應的Spec的條目，測試項目的名稱，當前測試結果，測試判定條件等。

　　在發送端測試中，通常需要消除USB3.0的測試夾具引入的損耗和反射。如下圖1所示為USB3.0發送端測試示意圖：夾具插到待測試芯片的USB口，夾具上通過PCB的傳輸線USB口引出到4個SMA連接頭（USB3的TX和RX各兩個），然后用SMA接口的同軸電纜連接到示波器。由于夾具上的連接器、過孔、傳輸線等會使信號發生衰減、色散或者反射，導致示波器測量到的信號有所惡化。力科的眼圖醫生軟件包括了夾具去嵌功能，只需輸入夾具的S參數模型文件（可由VNA或者TDR測量得到），即可計算出沒有夾具時測量到的信號的波形與眼圖。如圖2左下部分所示為示波器測量的USB3.0信號去嵌后測量到的眼圖，圖1右下部分是示波器直接測量到的眼圖（即未作夾具去嵌的眼圖），相比后者，前者的上升下降沿更陡峭，眼輪廓清晰，眼張得更開。從這個比較圖中可以看到力科的去嵌技術可以消除測試夾具的負面作用。使用夾具去嵌功能后，可以更加準確的測量電壓擺幅和去加重的比值。

圖1: 力科一致性測試軟件QualiPHY產生的報告一部分

　　差分電壓擺幅測試

　　差分電壓擺幅測試的目的是驗證信號峰峰值是否在0.8-1.2V之間。測試中Device Under Test（簡稱DUT）需要發送出測試碼型CP8（CP是Compliance Pattern的簡寫，在USB3的物理層測試中，各項測試需要不同的測試碼型，USB3.0規范中定義了各種測試碼流，USB3.0的芯片廠商提供了軟件接口來配置其發送數據的碼型），CP8由50-250個連續的1和50-250個連續的0重復交替組成，而且消除了去加重，其波形相當于50-250分頻的時鐘。在這些測試中，把USB3.0測試夾具去嵌后測量結果更精確。