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    天線測試方法介紹

    作者: 時間:2012-03-07 來源:網絡 收藏

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/194368.htm
    《電子系統設計》

      圖7:圖中測試采用雙脊喇叭作為源。

      有許多像APM和HiL那樣的不同可進行天線測量。測量技巧在于選擇正確的場,具體取決于待測的天線。對于中型天線(10個波長大小),推薦使用遠場測試場。另一方面,錐形暗室可以為低于500MHz的頻率提供更好的解決方案。它們也可以用于2GHz以上的頻率,但操作時需要備加小心才能確保獲得足夠好的性能。通過了解錐形微波暗室的正確使用,今天的工程師可以使用非常有用的工具開展100MHz至300MHz以及UHF范圍的天線測量。

      

    《電子系統設計》

      圖8:圖中測試采用一個對數周期天線來掃描QZ以測量反射率。


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    關鍵詞: 天線測試 方法

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