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    測試延遲自動生成器

    作者: 時間:2006-01-10 來源:網絡 收藏

    摘要:在電壓調整中,設備提供的負載電流需經一定的時間才能達到預定值。文章介紹了一套開發于ASL-1000平臺、可測試所需延時間的電路,使測試既準確又經濟,因此可推而廣之。

    關鍵詞:負載電流 時間 ASL-1000 測試

    1 引言

    在電壓調整器負載特性的測試中,測試設備一般采用電容組充、放電,以輸出具有一定脈寬的大電流,并將其提供給“特測器件”(DUT,Device Under Test)的輸出端作為負載電流。由于電容效應,該電流無法在t=0時刻達到器件手冊中的規定值,因而在電流源開啟后,必須經一段才能進行輸出采樣。延遲時間的取值對測試影響較大,過小則負載電流尚未達規定值,測試無效;過大將影響測試速度,造成經濟損失。

    2 電路設計

    ASL-1000是美國Credence公司研制的IC測試設備,已在業界普遍應用。在其電壓調整器的常規測試電路中,接入兩只內部繼電器并外接一只1Ω/5W的電阻,同時輔助以相應的測試軟件,從而構成了一套延遲時間電路,如圖1所示。

    3 設計實例

    圖1中,DVI-9-CH0提供DUT輸入電壓,PV3-2提供負載電流(圖中略)。DVI-9-CH1與DVI-11-CH1分別采樣測試。以集成穩壓器CW7812為例,合上MUX-1-1和MUX-2-1,當DUT負載電流為0.5A時,由于電阻壓降,兩測試端采樣到的電壓應相差0.5V,表1是經不同延遲時間后獲得的測量值。

    由表1數據可得負載電流與時間的關系示意圖,如圖2所示。顯然,延遲時間應稍大于T1并小于T2,才能使測試既準確又經濟,且不同芯片負載特性的差異會使T1、T2也隨之改變。鑒于此,筆者設計了一套延遲時間方案:合上繼電器,兩測試端同時采樣。設初始延遲時間為10μs,以100μs為步進,循環增加,直到兩測試端同次測值壓差不小于0.5V且同一端前后兩次測值之差不大于1mV,方可認定此時負載電流已達到0.5A。為避免進入死循環,程序設置了時間溢出(time_over),一旦延遲時間超出,程序退出并報錯,此時需配合其它參數的測試,檢查DUT是否已失效。正常測試時,要斷開MUX-2-1。

    表1 不同時延后的測值

    時延(s)1050100300500700
    DVI-9-CH1測值(V)12.083212.082112.083212.081512.080812.0802
    DVI-11-CH1測值(V)12.083212.083112.08112.061212.043512.0069
    時延(s)7507707908509501200
    DVI-9-CH1測值(V)12.074312.061512.055912.043612.050612.0553
    DVI-9-CH1測值(V)11.677211.511911.396211.263511.301211.5266
    時延(s)1300140015001600170030000
    DVI-9-CH1測值(V)12.056812.057212.057712.057812.057812.0832
    DVI-9-CH1測值(V)11.548511.549511.549711.549811.549912.0832

    以下為測試源程序Vout_Highload.cpp:

    void Vout_Highload(test_function func)

    { //The two lines below must be the first two in the function.

    Vout_Highload_params *ours;

    ours=(Vout_Highload params *)func.params;

    floatVout,Vout1,Vout2,Vout3,delta1,delta2,delta3;

    float time_delay=1,time_over=1000;

    //initialise delay time=10μs,time_over=10ms board_hardware_init();

    fixed_connect();

    //initialise the DVI_9_CH1 and the DVI_1_CH1

    dvi_9 ->set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);

    dvi_9->est_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RANGE,

    FAST_VOLTAGE_MODE);

    div_11 ->set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);

    dvi_11->set_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RANGE,FAST_VOLTAGE_MODE);

    //connect the resistor to the output of the DUT

    mux_20->close_relay(MUX_1_1);

    mux_20->close_relay(MUX_2_1);

    //set initial current

    pv3_2->set_voltage(0.0,PV3_RNG_100V);

    //set initial voltage

    wait.delay 10_μs(10);

    pv3_connect(); //connect PV3 to circuit

    do

    {//Set PV3 voltage to 20V so that PV3 step up current to max value

    pv3_2->set_voltage(20,PV3_RNG_100V);

    pv3_2->set_current(0.5,RANGE_10_A);

    //set the current to 0.5A

    pv3_2->drive-on();

    wait.delay_10_μs(time_delay);

    Vout=dvi_9->measure (); //Measure output without the resistor

    Vout1=dvi_11->measure (); //Measure output with the resistor

    pv3_2->drive_off();

    time_delay=time_delay+10;

    delta1=Vout-Vout1;

    delta2=Vout-Vout2;

    delta2=Vout1-Vout3;

    Vout2=Vout;

    Vout3=Vout1;

    if(time_delay>time_over)

    {Vout=999.999;

    break;

    }

    } while((fabs(delta1)0.5)||(fabs(delta2)>0.001)||(fabs(delta3)>0.001));

    board_hardware_init();

    }

    4 結束語

    經以上程序,在測得CW7812實際輸出電壓Vout 的同時,可自動獲得測試所需的延遲時間(timedelay),且在后續其它參數的測試中,延遲時間可延用此數值。如此,既滿足了測試要求,又最大限度的節省了測試時間。本方法適用于其它所有電壓調整器的測試,并可推廣到其它測試設備中。



    關鍵詞: 生成 自動 延遲 測試

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