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    NI5665與傳統(tǒng)儀器對比演示-設(shè)置與細(xì)節(jié)

    作者: 時(shí)間:2012-06-26 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

      EVM測量

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/133948.htm

      在EVM中,使用 PXIe-5673矢量信號發(fā)生器生成一個(gè)LTE信號。兩個(gè)儀器均使用如下設(shè)置:
         o RBW = 30 kHz
      o 10 dB 衰減
      o 10 次平均
      o 關(guān)閉自動(dòng)峰值檢測  

      

       使用可編程的FPGA進(jìn)行在線處理  

        FlexRIO非常靈活,可以作為一個(gè)協(xié)處理器。在這一演示的設(shè)置中,所有來自PXIe-的數(shù)據(jù)都是在FPGA上進(jìn)行處理;而在之前的演示設(shè)置中,數(shù)據(jù)是在嵌入式處理器中進(jìn)行處理。這一特性的應(yīng)用非常廣泛,例如硬件處理的算法、協(xié)議實(shí)現(xiàn)以及實(shí)時(shí)激勵(lì)-響應(yīng)等應(yīng)用。



    關(guān)鍵詞: NI 測試 5665

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