基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

　　3GPP TS 36.141規定性能測試只需在配置1下進行，因此可以根據表1的描述得到配置1時的時序圖：在配置1時，上行只在子幀2、3、7和8四個位置發送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發送ACK/NACK指令，指令的指示對象及重傳位置關系如圖1所示。

　　測試平臺

　　硬件平臺

　　性能測試目的在于模擬實際環境下的系統吞吐率，因此需要基站與測試儀器進行聯調。硬件測試平臺包括：支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統調試)。測試系統結構如下。

　　PXB實時產生TD-LTE上行信號并經過特定信道模型下的衰落后，輸出的基帶I/Q信號經過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線。基站端對接收到的射頻信號進行解調解碼，并以RS232C的串行通信方式將反饋結果(ACK/NACK指令)傳回至PXB，PXB根據ACK/NACK指令實時調整RV因子重新發送數據包或選擇放棄當前數據包(當eNB發送ACK信號或是已達到最大重傳次數)。最后基站端統計得到系統的吞吐率。

　　軟件平臺

　　PXB通過運行在其內部的Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產生特定的參考測試信號，并實時地調整編碼冗余因子。

　　反饋信號格式

　　基站下發給PXB的ACK/NACK信號以RS232C串行通信的數據格式進行編碼，PXB根據相同的編碼速率和格式進行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號由8個比特組成，1個起始位，1個停止位，無奇偶校驗位。具體的數據格式如表2所示。