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    基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)測試系統

    作者: 時間:2010-05-10 來源:電子產品世界 收藏

    本文引用地址:http://www.czjhyjcfj.com/article/108829.htm

      圖5 (軟件控制主界面)

      圖 6 (主程序框圖)

      結論

      通過公司先進的技術,能夠準確而快速地對硬件進行控制和數據采集;同時驅動庫DAQmx與軟件開發平臺的無縫連接,利用構建的FCT功能測試臺, 雖然結構復雜,信號量較多,但是結構調理,功能強大,易于修改,同時實現了資源共享,經過大量的實驗,測試,我們非常成功的運用多臺這樣的FCT功能測試臺到了工廠的產線中,并且穩定可靠。每次新產品釋放的時候,研發工程師只需要添加一個治具,根據資源分配表壓針,連線,修改軟件即可;大大減少了測試工程師的工作負荷。相信的產品在該行業會有更加深入的應用。


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    關鍵詞: NI LabVIEW PXI

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